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Product CategorySuperViewW非接觸式表面光學(xué)粗糙度輪廓儀以白光干涉技術(shù)為原理,以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。它結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過系統(tǒng)軟件對器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析,并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù)。
SuperViewW鍍膜粗糙度光學(xué)輪廓測量儀基于白光干涉原理,以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。它結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過系統(tǒng)軟件對器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析,并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù),從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測量。
SuperViewW廣東3d光學(xué)非接觸式輪廓儀測量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短,確保了高款率檢測。特殊光源模式可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量。
SuperViewW非接觸式表面光學(xué)輪廓儀以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸。測量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短,確保了高款率檢測。特殊光源模式可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量。
SuperViewW光學(xué)三維表面粗糙度輪廓儀測量單個(gè)精細(xì)器件的過程用時(shí)短,確保了高款率檢測。特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細(xì)器件表面的測量。
SuperViewW非接觸式光學(xué)3D表面形貌測量系統(tǒng)以白光干涉技術(shù)為原理,能以3D非接觸方式,測量分析樣品表面形貌的關(guān)鍵參數(shù)和尺寸,可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。
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