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W1光學輪廓儀是通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌，分辨率0.1μm，重復性0.1%，應用領域廣泛，操作簡便，可自動聚焦測量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數。專用于精密零部件之重點部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量。

3d光學輪廓測量儀可自動聚焦測量工件獲取2D，3D表面粗糙度、輪廓等一百余項參數，能達到微型范圍內重點部位的納米級粗糙度、輪廓等參數的測量。廣泛應用于如納米材料、航空航天、半導體等各類精密工件表面質量要求高的領域中。

SuperViewW1光學輪廓儀器廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精密器件表面的測量。具有測量精度高、功能全面、操作便捷、測量參數涵蓋面廣的優(yōu)點，測量單個精密器件的過程用時2分鐘以內，確保了高款率檢測。

SuperViewW1光學表面輪廓測量儀對產品進行高品質監(jiān)控時不需要取下產品或停止生產，而且采用的是非接觸式光學測量，在獲得實時數據的同時，不會對產品造成任何損傷，從而有效節(jié)約了生產成本，提高了生產效率，并且在線檢測，沒有滯后性，從而減少不合格品，對表面缺陷檢測亦如此。

SuperViewW1表面光學輪廓儀在微電子、微機械、微光學等領域，表面光學輪廓儀可以提供更高精度的檢測需求。還可以用自動多區(qū)域測量功能，在樣品表面抽取多個測量區(qū)域進行測量，從而對樣品進行評估分析?？梢蕴峁└呔鹊臋z測需求。

隨著白光干涉測量技術的發(fā)展和完善，白光干涉儀已經得到了廣泛的應用。在微電子、微機械、微光學等領域，中圖的光學式表面粗糙度輪廓儀可以提供更高精度的檢測需求。