簡要描述:一鍵批量分析白光干涉測頭,是一款非接觸式精密光學(xué)測頭,其基于白光干涉和精密掃描研制而成,主要由光學(xué)干涉系統(tǒng)和Z向掃描系統(tǒng)組成,具有體積小、重量輕、便攜的特點(diǎn)
詳細(xì)介紹
品牌 | 中圖儀器 | 適用行業(yè) | 電磁機(jī)械 |
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產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 加工定制 | 否 |
一鍵批量分析白光干涉測頭
SuperView WX 100白光干涉測頭是一款非接觸式精密光學(xué)測頭,其基于白光干涉和精密掃描研制而成,主要由光學(xué)干涉系統(tǒng)和Z向掃描系統(tǒng)組成,具有體積小、重量輕、便攜的特點(diǎn),能夠方便地搭載在各種具備XY水平位移架構(gòu)的平臺上,在產(chǎn)線上對器件表面進(jìn)行自動化形式的測量,直接獲取與表面質(zhì)量相關(guān)的粗糙度、輪廓尺寸等2D/3D參數(shù)。
產(chǎn)品功能
1、測量功能:能夠?qū)崿F(xiàn)樣件表面的高精密Z向掃描,獲取3D圖像;
2、分析功能:能夠獲取關(guān)于表面質(zhì)量的粗糙度、微納級別的輪廓尺寸等2D、3D數(shù)據(jù);
3、編程功能:支持預(yù)配置數(shù)據(jù)處理和分析工具步驟,一鍵完成測量到分析全過程;
4、批量分析:可根據(jù)需求參數(shù)定制數(shù)據(jù)處理和分析模板,針對同類型參數(shù)數(shù)據(jù)實(shí)現(xiàn)一鍵批量分析;
一鍵批量分析白光干涉測頭
應(yīng)用領(lǐng)域:
對各種產(chǎn)品、部件和材料表面的粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、加工情況等表面形貌特征進(jìn)行測量和分析。
應(yīng)用范例:
半導(dǎo)體.拋光硅片、減薄硅片、晶圓IC |
3C電子.藍(lán)寶石玻璃粗糙度、金屬殼模具瑕疵、玻璃屏高度差 |
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