產(chǎn)品分類(lèi)
Product CategorySuperVirewW1光學(xué)3d表面輪廓儀可測(cè)各類(lèi)從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級(jí)別工件的粗糙度、平整度、微觀(guān)幾何輪廓、曲率等參數(shù),廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測(cè)、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車(chē)零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中。
中圖SuperViewW1三維光學(xué)表面輪廓儀以白光干涉技術(shù)為原理,主要用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量,通過(guò)利用接觸式及非接觸式雙模式基于技術(shù)上的優(yōu)勢(shì)獲得獲得全面的表面特性。既可以用于科學(xué)研究,也可以用于工業(yè)產(chǎn)品的檢測(cè)。
光學(xué)3D表面輪廓儀是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。有非接觸式無(wú)損檢測(cè),一鍵分析、快速高效的優(yōu)點(diǎn)。
光學(xué)3D表面輪廓測(cè)量?jī)x,是一款用于對(duì)各種精密器件及材料表面進(jìn)行亞納米級(jí)測(cè)量的檢測(cè)儀器。 非接觸式無(wú)損檢測(cè),一鍵分析、快速高效
中圖儀器3d光學(xué)輪廓儀國(guó)內(nèi)品牌的重建算法自動(dòng)濾除樣品表面噪點(diǎn),在硬件系統(tǒng)的配合下,分辨率可達(dá)0.1nm。它以白光干涉技術(shù)為原理、結(jié)合精密Z向掃描模塊、3D 建模算法等對(duì)器件表面進(jìn)行非接觸式掃描并建立表面3D圖像,通過(guò)系統(tǒng)軟件對(duì)器件表面3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)處理與分析,并獲取反映器件表面質(zhì)量的2D、3D參數(shù),從而實(shí)現(xiàn)器件表面形貌3D測(cè)量。
中圖儀器SuperViewW1光學(xué)輪廓測(cè)量?jī)x品牌由光學(xué)照明系統(tǒng)、光學(xué)成像系統(tǒng)、垂直掃描控制系統(tǒng)、信號(hào)處理系統(tǒng)、應(yīng)用軟件構(gòu)成。以白光干涉技術(shù)為原理,能夠以?xún)?yōu)于納米級(jí)的分辨率,非接觸測(cè)量樣品表面形貌,主要用于表面形貌紋理,微觀(guān)結(jié)構(gòu)分析,用于測(cè)試各類(lèi)表面并自動(dòng)聚焦測(cè)量工件獲取2D,3D表面粗糙度、輪廓等一百余項(xiàng)參數(shù),廣泛應(yīng)用于光學(xué),半導(dǎo)體,材料,精密機(jī)械等領(lǐng)域。
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