簡要描述:SJ5900中圖輪廓儀光學曲面測量儀集成表面粗糙度和輪廓測量。儀器采用超高精度納米衍射光學測量系統(tǒng)、超高直線度研磨級摩擦導軌、高性能直流伺服驅(qū)動系統(tǒng)、高穩(wěn)定性氣浮隔震系統(tǒng)、高性能計算機控制系統(tǒng)技術(shù),實現(xiàn)對球面及非球面光學元器件表面粗糙度和輪廓的高精度測量和分析。
詳細介紹
品牌 | 中圖儀器 | 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) |
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加工定制 | 否 |
SJ5900中圖輪廓儀光學曲面測量儀集成表面粗糙度和輪廓測量。儀器采用超高精度納米衍射光學測量系統(tǒng)、超高直線度研磨級摩擦導軌、高性能直流伺服驅(qū)動系統(tǒng)、高穩(wěn)定性氣浮隔震系統(tǒng)、高性能計算機控制系統(tǒng)技術(shù),實現(xiàn)對球面及非球面光學元器件表面粗糙度和輪廓的高精度測量和分析。
中圖輪廓儀光學曲面測量儀廣泛應(yīng)用于精密機械加工、汽車、軸承、機床、模具、精密五金等行業(yè)。該儀器可以對零件表面,尤其是大范圍曲面,如圓弧面和球面、異型曲面等進行檢測,可分析出非球面參數(shù)、多種粗糙度參數(shù)、微觀輪廓度參數(shù)。是大曲面測量(光學鏡片、光學精密模具、軸承、人工關(guān)節(jié)、齒輪、葉片)領(lǐng)域精細粗糙度測量的利器。
nm級高精密光學曲面測量
1.具有12mm~24mm的大量程粗糙度測量范圍,分辨率高達0.1nm,系統(tǒng)殘差小于3nm。
2.高穩(wěn)定性的隔震系統(tǒng),自帶隔震氣浮系統(tǒng),外界的噪聲及其他氣流通過儀器的玻璃罩進行了隔離,能確保高精度高穩(wěn)定度的測量特殊的光學元器件表面輪廓及粗糙度參數(shù)。
3.超高直線度研磨級摩擦導軌、特殊紅寶石轉(zhuǎn)軸系統(tǒng)提供轉(zhuǎn)動的超高靈敏度及測量精度。
4.高穩(wěn)定的驅(qū)動設(shè)計,確保了驅(qū)動運行過程中不產(chǎn)生任何的振動及干擾,保障了系統(tǒng)掃描運動精度。
5.專用標定器能對儀器的參數(shù)和測針針尖磨損進行修正補償,使其滿足高精度輪廓測量。
非球面光學測量與分析軟件系統(tǒng)
1.超智能的非球面光學軟件分析系統(tǒng),專業(yè)定制的非球面測量軟件系統(tǒng),非球面全參數(shù)都能測量。
2.根據(jù)GB/T、ISO、JIS等標準,自動評價粗糙度。
3.對于簡單的工件只需要設(shè)置測量長度即可一鍵測量。
對于復雜的工件,可以定工件的任意位置進行分段測量,并做成模板便于輪廓批量測量。
4、CNC固定坐標系模式下,可快速精確地進行輪廓批量測量。
5.自動保存測量結(jié)果,測量完成后可輸出測量報告,形式多樣。
6.軟件操作界面簡潔直觀,任何人都能輕松設(shè)定和測量。
智能靈活儀器操縱設(shè)計
1.測針一鍵拔插,特殊設(shè)計的高剛性拔插結(jié)構(gòu),無需鎖螺釘,方便快捷、穩(wěn)定可靠。
2.智能微測力系統(tǒng),0.5-3mN 測力檔位可調(diào),可滿足不同工件表面測量要求,特別是光學鏡片。
3.各個運動軸都有進行硬件及軟件保護,降低人員因操作失誤帶來的測針及儀器損傷。
4.帶舵機結(jié)構(gòu),可防止掃描陡坡時的快速下墜。
5.組合調(diào)節(jié)控制手柄可快速完成載物臺平移,X軸和Z軸定位,測桿上下擺動及速度分級調(diào)節(jié)功能。
6.電動Y軸臺,可實現(xiàn)單獨Y軸、XY軸組合自動找拐點,減少人工找拐點帶來的誤差。
1.非球面基本參數(shù)輸入功能:凸凹形狀、R-頂點半徑、K-圓錐常數(shù),多次項常數(shù):A1、A2…A40等;
2.非球面參數(shù)測量評定:微觀輪廓參數(shù)Pt、Pa、Fig;傾角參數(shù)Smn、Smx;水平軸線夾角Tilt;光軸與輪廓的距離參數(shù)Xp、Xv、Xt;均方根粗糙度參數(shù)RMS;斜率參數(shù)Slpe mx、Slpe mx(x)、Slpe rms、Slpe ave;勾選優(yōu)化半徑后計算頂點半徑誤差參數(shù)Radius Err等。
3.表面粗糙度評定: R參數(shù)、P參數(shù)、W參數(shù)、核心粗糙度Rcore、Motif等微觀粗糙度參數(shù)。
4.支持輪廓分析功能:創(chuàng)建坐標、量測工具、構(gòu)建特征、可測幾何量、形位公差等功能。
5.具備自動找拐點功能,能按照程序設(shè)置進行X軸自動找拐點。
型號 | SJ5900-100 | |
輪廓參數(shù) | 測量范圍 | X:0~100mm |
立柱:0~300mm | ||
Z:±6mm(標準測針桿)(±12mm:選擇兩倍測針桿時) | ||
掃描速度 | 0.05~5mm/s | |
測量力 | 0.5mN、0.75mN、1mN、2mN、3mN(電子檔位可調(diào)) | |
粗糙度參數(shù) | 適用Ra測量范圍 | Ra0.012μm~Ra12.5μm(可選更大范圍) |
示值誤差 | Ra0.012μm ~ Ra3.2μm: ≤±(3nm+2.0%A)(A:測量Ra標稱值,μm) Ra3.201μm ~ Ra12.5μm: ≤±(3nm+3.5%A)(A:測量Ra標稱值,μm) | |
非球面測量參數(shù) | 微觀輪廓參數(shù):Pt、Pa、Fig; 傾角參數(shù):Smx、Smn; 水平軸線夾角參數(shù):Tilt; 光軸與輪廓的距離參數(shù):Xp、Xv、Xt; 均方根粗糙度參數(shù):RMS; 斜率參數(shù):Slpe mx、Slpe mx(x)、Slpe rms、Slpe ave; 頂點半徑誤差參數(shù):Radius Err。 | |
粗糙度測量參數(shù) | R粗糙度: Rp,Rv,Rz,Rc,Rt,Ra,Rq,Rsk,Rku,RSm,RPc,Rdq,Rdc,Rmr,Rmax,Rpm,tp,Htp,Pc,Rda,Ry,Sm,S,Rpc,RzJ; 核心粗糙度Rcore: Rk,Rpk,Rvk,Rpkx,Rvkx,Mr1,Mr2,A1,A2,Vo; P輪廓參數(shù): Pa,Pq,Pt,Pz,Pp,Pv,PSm,Psk,Pku,Pdq,Pdc,Pc,PPc,Pmr,Rad,PzJ,Pmax; W波紋度輪廓參數(shù): Wa,Wq,Wt,Wz,Wp,Wv,WSm,Wsk,Wku,Wdq,Wdc,Wmr,Wpc,Wc; Motif參數(shù):R,AR,W,AW,Rx,Wx,Wte; 符合標準: GB/T 3505-2009,ISO 4287:1997,ISO13565-2:1996,ASME B46.1-2002, DIN EN ISO 4287:2010,JIS B 0601:2013,JIS B 0601-1994, JIS B 0601-1982,ISO 1302:2002 |
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