簡要描述:SuperViewW13D光學(xué)白光干涉儀測量單個精密器件的過程用時2分鐘以內(nèi),確保了高款率檢測,具有測量精度高、操作便捷、功能全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)。它特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精密器件表面的測量。
產(chǎn)品分類
Product Category詳細(xì)介紹
品牌 | 中圖儀器 | 產(chǎn)地 | 國產(chǎn) |
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加工定制 | 否 |
中圖儀器3D光學(xué)白光干涉儀SuperViewW1基于白光干涉原理,不僅用于零件的檢測,還是一種在生產(chǎn)中用于檢測軋制產(chǎn)品表面缺陷的設(shè)備,能完成缺陷尺寸的在線檢測。廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學(xué)加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業(yè)及航空航天、科研院所等領(lǐng)域中。
SuperViewW13D光學(xué)白光干涉儀測量單個精密器件的過程用時2分鐘以內(nèi),確保了高款率檢測,具有測量精度高、操作便捷、功能全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點(diǎn)。它特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精密器件表面的測量。
1) 一體化操作的測量與分析軟件,操作無須進(jìn)行切換界面,預(yù)先設(shè)置好配置參數(shù)再進(jìn)行測量,軟件自動統(tǒng)計測量數(shù)據(jù)并提供數(shù)據(jù)報表導(dǎo)出功能,即可快速實(shí)現(xiàn)批量測量功能。
2) 測量中提供自動多區(qū)域測量功能、批量測量、自動聚焦、自動調(diào)亮度等自動化功能。
3) 測量中提供拼接測量功能。
4) 分析中提供調(diào)整位置、糾正、濾波、提取四大模塊的數(shù)據(jù)處理功能,其中調(diào)整位置包括圖像校平、鏡像等功能;糾正包括空間濾波、修描、尖峰去噪等功能;濾波包括去除外形、標(biāo)準(zhǔn)濾波、過濾頻譜等功能;提取包括提取區(qū)域和提取剖面等功能。
5) 分析中提供粗糙度分析、幾何輪廓分析、結(jié)構(gòu)分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能,其中粗糙度分析包括依據(jù)國際標(biāo)準(zhǔn)的ISO4287的線粗糙度、ISO25178面粗糙度、ISO12781平整度等全參數(shù)分析功能;幾何輪廓分析包括臺階高、距離、角度、曲率等特征測量和直線度、圓度形位公差評定等功能;結(jié)構(gòu)分析包括孔洞體積和波谷深度等;頻率分析包括紋理方向和頻譜分析等功能;功能分析包括SK參數(shù)和體積參數(shù)等功能。
分析中同時提供一鍵分析和多文件分析等輔助分析功能,設(shè)置分析模板,結(jié)合測量中提供的自動測量和批量測量功能,可實(shí)現(xiàn)對小尺寸精密器件的批量測量并直接獲取分析數(shù)據(jù)的功能。
在檢查SuperView W1白光干涉儀的各線路接頭都準(zhǔn)確插到對應(yīng)插孔后,開啟儀器電源開關(guān),啟動計算機(jī),將單刻線臺階工件放置在載物臺中間位置,先手動調(diào)整載物臺大概位置,對準(zhǔn)白光干涉儀目鏡的下方。
在計算機(jī)上打開白光干涉儀測量軟件,在軟件界面上設(shè)置好目鏡下行的點(diǎn),再微調(diào)鏡頭與被測單刻線臺階表面的距離,調(diào)整到計算機(jī)屏幕上可以看到兩到三條干涉條紋為佳,此時設(shè)置好要掃描的距離。按開始按鈕,白光干涉儀可自動進(jìn)行掃描測量,測量完成后,轉(zhuǎn)件自動生成3D圖像,測量人員可以對3D圖像進(jìn)行數(shù)據(jù)分析,獲得被測器件表面線、面粗糙度和輪廓的2D、0D參數(shù)。
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