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SuperView W1系列光學(xué)輪廓粗糙度測量儀可對各種產(chǎn)品、部件和材料表面的平面度、粗糙度、波紋度、面形輪廓、表面缺陷、磨損情況、腐蝕情況、孔隙間隙、臺階高度、彎曲變形情況、加工情況等表面形貌特征進行測量和分析。
光學(xué)輪廓儀SuperViewW1集成X、Y、Z三個方向位移調(diào)整功能的操縱手柄,可快速完成Z向聚焦、載物臺平移、找條紋等測量前工作。3D重建算法、精密Z向掃描模塊和光學(xué)干涉技術(shù)組成的測量系統(tǒng),以及能有效隔離2Hz以上頻率的隔振系統(tǒng),保證了測量精度和測量重復(fù)性。
CHOTEST中圖儀器SJ5800粗糙度輪廓度儀一體機具有12mm-24mm的粗糙度輪廓一體式測量范圍,分辨率達到0.1nm,是大曲面測量(軸承、人工關(guān)節(jié)、精密模具、齒輪、葉片、光學(xué)鏡片)領(lǐng)域精細粗糙度測量的利器。
SJ5800粗糙度儀輪廓儀能一次測量同時評定輪廓和粗糙度參數(shù),超高精度衍射光學(xué)測量系統(tǒng),具有12mm~24mm的大量程粗糙度測量范圍,分辨率高達0.1nm,系統(tǒng)殘差小于2nm。高精度、高穩(wěn)定性、高重復(fù)性滿足被測件測量精度要求。
SuperViewW1白光干涉全自動光學(xué)輪廓儀是利用光學(xué)干涉原理研制開發(fā)的超精細表面輪廓測量儀器。具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數(shù)涵蓋面廣的優(yōu)點,測量單個精細器件的過程用時2分鐘以內(nèi),確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。
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